材料微观特性测试仪

  • 10/人
    使用者
  • 30/次
    总次数
  • 5546/小时
    总时长
  • 7/人
    收藏者

收费标准

机时
150元/样品
送样
详见检测项目

设备型号

G200

当前状态

管理员

林国华 15838073956

放置地点

龙湖校区粉塔楼基础力学实验室
  • 仪器信息
  • 预约资源
  • 检测项目
  • 附件下载
  • 公告
  • 同类仪器

名称

材料微观特性测试仪

资产编号

2014058178

型号

G200

规格

G200

产地

美国

厂家

安捷伦(Agilent)

所属品牌

安捷伦(Agilent)

出产日期

购买日期

2014-12-01

所属单位

智能建造与建筑工程学院

使用性质

科研

所属分类

资产负责人

丁鹏初

联系电话

15838073956

联系邮箱

放置地点

龙湖校区粉塔楼基础力学实验室
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
  • 样本检测注意事项
  • 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
"1)*系统构造要求:
采用主流、成熟的样品水平放置设计,加载测试系统垂直向下(非侧向加载)施加可控制的压力作用于试样。
2)*最小有效加载载荷:0.1mN
3)*最大有效加载载荷:500mN
4)*有效载荷分辨率:≤40nN
5) 最小接触力:≤1uN
6) 最大压痕深度≥20um
7) 位移分辨率:≤0.04nm
8)*具有硬件上表面参比的设计,实时硬件扣除热漂移效应(非软件拟合扣除热漂移)
9)*热漂移:小于0.04nm/sec(白天测试,以熔融硅为测试样品,开机后15分钟内,在1mN下保载300s,进行测量,300秒内位移深度的变化值最大不超过12nm)。
10)加载模式:电磁驱动加载
11) 位移测量:电容位移传感器
主要功能及特色
"1)*系统构造要求:
采用主流、成熟的样品水平放置设计,加载测试系统垂直向下(非侧向加载)施加可控制的压力作用于试样。
2)*最小有效加载载荷:0.1mN
3)*最大有效加载载荷:500mN
4)*有效载荷分辨率:≤40nN
5) 最小接触力:≤1uN
6) 最大压痕深度≥20um
7) 位移分辨率:≤0.04nm
8)*具有硬件上表面参比的设计,实时硬件扣除热漂移效应(非软件拟合扣除热漂移)
9)*热漂移:小于0.04nm/sec(白天测试,以熔融硅为测试样品,开机后15分钟内,在1mN下保载300s,进行测量,300秒内位移深度的变化值最大不超过12nm)。
10)加载模式:电磁驱动加载
11) 位移测量:电容位移传感器
样本检测注意事项
测量纳米尺度的硬度与弹性模量
设备使用相关说明
1.用户通过“大型仪器设备共享网络平台”查阅信息并确定拟使用的仪器设备;2.用户提前两周填写《材料微观特性测试仪-大型仪器设备开放共享使用申请表》并与实验中心负责人联系;3.用户到设备所在实验中心(室)核算加工测试、试验等服务费用;4.实验中心(室)为用户进行加工测试、试验等; 5.测试(加工、试验等)完成后,用户和实验中心(室)主任签字确认,实验室管理委员会审核; 6.用户到财务处缴纳使用加工测试、试验等服务费用; 7.用户持缴款收据到实验中心(室)领取测试(加工、试验等)结果; 8.进入实验室人员,要遵守实验中心的各项规章制度,损坏设备需要维修或视情节进行赔偿。
为便于管理和确定收费数额,按照以下标准收费: (1)校外横向项目按照试样(试件)数量收费:每个试样(试件)收取仪器采购价格的0.3%; (2)校内教师科研项目、研究生论文试验、挑战杯试验按照试样(试件)数量收费:每个试样(试件)收取仪器采购价格的0.1%; (3)如需实验室教师做试验,应支付实验室教师技术指导费300元/天,该项费用应提前预付,试验结束后进行结算; (4)由于使用者的原因长期无故占用实验室,按照仪器采购价格的0.1%/天收取场地使用费。
预约资源
检测项目
附件下载
公告
同类仪器